年末見直し、今の専門なんですか？(2024/12/21)

誰でもできるが頭の整理に定期的に必要

専門分野

回路設計＝電気電子回路(〇職歴)

電子計測(〇職歴)

半導体物性(〇研究)

材料物性(〇研究)

センサ工学(〇研究)

職歴

FA機器開発
半導体検査装置(Automated Test Equipment,ATE)開発

TA(Teaching Assistant)

国家資格

高校教員免許(工業)

自動車免許(準中,普通2輪)

危険物(すべて)

毒物劇物

企業資格

全豊田外来工事(高所・感電・安衛法)

趣味

写真撮影

回路設計(専門も職歴ももとをただせば趣味由来)

その他

学会誌の記事執筆

特殊専門機器の使用歴

X線回折装置(XRD : X ray Diggraction)

●株式会社リガク：RINT 2200H

・2θ/ωスキャン
・φスキャン
・ωスキャン

※少ししか触れていない

高輝度In-plane型X線回折装置

●株式会社リガク：SmartLab（9kW）

使ったモード
・2θ/θスキャン
・φスキャン
・ωスキャン

スペック

集中法、多層膜平行ビーム法、薄膜高分解平行ビーム法、インプレーン光学系

高輝度二次元X線回折装置
●Bruker AXS：D8 DISCOVER

使ったモード
・2θ/θスキャン

・GIXD(GIXRD)スキャン

スペック

平行ビーム（光学系は集中法）
出力：50 kV, 100 mA

参考：X線回折による 機能性酸化物薄膜の評価

https://www.rigaku.co.jp/event/dlpdf.php

走査型プローブ顕微鏡(SPM : Scanning Probe Microscope)

原子間力顕微鏡(AFM)
●日本電子株式会社：JSPM-5200
コンタクトモード

走査型プローブ顕微鏡(AFM)

●Bruker AXS：MultiMode 8


走査型電子顕微鏡 (SEM : Scanning ElectronMicroscope)

●日本電子株式会社：JSM 5310LVB

●日本電子株式会社：JSM 6010PLUS/LA

●日本電子株式会社：JSM-7100F

●日立ハイテクノロジーズ：SU1510

●日立ハイテクノロジーズ：S-4800

紫外可視分光光度計
●日本分光株式会社：V-670

・透過測定

・反射測定